Servicio de Caracterizaciones Mecánicas y Superficiales

Perfilómetro Mecánico, Veeco, Dektak 150

Descripción de la infraestructura: Perfilómetro mecánico de tipo palpador con puntas de medida: 50 nm., 0.7 micras y 12.5 micras. Resolución vertical 1 nm.
Responsable: Juan María González Leal.
Ubicación: Módulo M1 IMEYMAT.
Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos: Medida de espesores de capas. Medida de rugosidades. Medidas de texturas. Análisis de frecuencias espaciales.

Servicio de Equipamiento Termofísico y Termoquímico

Medidor de Conductividad Térmica en Materiales, LASERCOMP, FOX 200

Descripción: Instrumento para medida de la conductividad térmica a una temperatura, de medida rápida mediante el método del flujo de calor. Permite operar con cualquier material sólido: metales, cerámicos, polímeros, compuestos, vidrios y gomas. Está especialmente pensado para plásticos celulares y láminas delgadas, además de permitir ensayos de piezas de tamaños típicos para edificación (normas ASTM C518 e ISO 8301). También permite medir espesores hasta 0,025mm. El tamaño y geometría típicos de las muestras son cuadradas de 200mm de lado y espesores hasta 52mm. El rango de temperaturas para el ensayo puede variar desde -20 °C hasta 75ªC.
Responsable: David Sales Lérida.
Ubicación: Escuela Politécnica Superior de Algeciras.
Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos: : Medida de la conductividad térmica a una o varias temperaturas. Variación de dicha propiedad térmica con la temperatura en el rango permitido por el equipo. Informe según normas ASTM C518 e ISO 8301.

¿Es necesario para su uso un técnico?Sí.
¿Dispone de técnico? Sí.

Servicio de Técnicas Espectroscópicas

Elipsómetro Espectroscópico Woollam V-VASE

Descripción: Equipo para la determinación de las contantes ópticas de materiales, tanto masivos, como películas delgadas, en el rango entre 190 nm y 3200 nm de longitud de onda. En este último caso permite la determinación de espesores con resolución del Angstrom y la realización de mapas topográficos de superficies de hasta 5 cm x 5 cm, con una resolución lateral de hasta 100 micras. El equipo también permite la realización de medidas de transmitancia, reflectancia y escaterometría de las muestras estudiadas.
Responsable: Eduardo Blanco Ollero.
Ubicación: Laboratorio de Propiedades Ópticas. Departamento de Física de la Materia Condensada. IMEYMAT.
Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos:

• Determinación de n, k y constante dieléctrica (real e imaginaria) de materiales en el rango de 190 nm a 3200 nm
• Determinación de espesores de películas delgadas entre 50 nm a varias micras (dependiendo del material)
• Realización de perfiles topográficos de superficies de hasta 5 cm x 5 cm con resolución lateral de hasta 100 micras y en profundidad hasta 0,1 nm.
• Medidas de reflectometría y de acabado especular.
• Espectros de reflexión y transmisión con luz polarizada.

¿Es necesario para su uso un técnico? Sí.
¿Dispone de técnico? No.
Observaciones: El tiempo de medida depende del rango y resolución espectral deseado.

Espectrofotómetro UV-Vis-NIR Agilent Cary 5000

Descripción: Equipo para la realización de espectros de transmisión y reflexión, especular y difusa, de muestras sólidas y líquidas, en el rango 200-3000 nm de longitud de onda. Equipado con esfera integradora.
Responsable: Eduardo Blanco Ollero.
Ubicación: Laboratorio de Espectroscopía. Departamento de Física de la Materia Condensada. IMEYMAT.
Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos:

• Espectros de transmisión muestras líquidas, rango 200-3000 nm.
• Espectros de transmisión muestras sólidass, rango 200-3000 nm.
• Espectros de reflexión especular con esfera integradora.
• Espectros de reflexión difusa con esfera integradora.
• Espectros de transmisión difusa con esfera integradora.
• Espectros de reflexión difusa de muestras en polvo con esfera integradora.

¿Es necesario para su uso un técnico? Sí.
¿Dispone de técnico? No.

Espectrofotómetro UV-Vis-PGI INSTRUMENTS T80+

Descripción: Espectrofotómetro UV Vis de doble haz, con rendija variable a 0.5, 1.0, 2.0 y 5.0 nm. Sistema de detección mediante fotodiodo de silicio. Equipo autónomo que integra display LCD, conexión RS232 y cargador automático para 8 cubetas. Funciona bajo Software UV Win 5 para control desde PC. Rango de medida: 190 – 1100 nm Rango fotométrico: de -0.3 a 3 Abs
Responsable: José Mª Palacios Santander.
Ubicación: Laboratorio de Instrumentación. Grupo FQM-249. Departamento de Química Analítica. Facultad de Ciencias.
Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos:

• Preparación de la muestra.
• Análisis mediante medidas fotométricas.
• Registro de espectros UV/Vis.
• Determinaciones cuantitativas en muestras.
• Otros posibles servicios aún no disponibles:
  • Medidas de cinéticas de reacción.
  • Análisis de ADN/proteínas.

Espectrómetro RAMAN, JASCO, NRS7200

Descripción de la infraestructura: Espectrómetro Raman dispersivo Jasco, modelo NRS-7200 con láseres de excitación de 532 nm, 785 nm y 1064 nm de longitud de onda. Máxima resolución 0.7 cm-1. Intervalo espectral 10 – 8000 cm-1.
Responsable: Juan María González Leal.
Ubicación: Módulo M1 IMEYMAT.
Servicios que se ofertan actualmentey posibles aplicaciones en otros campos: Mapeo químico de superficies e e imágenes Raman 2D y 3D. Identificación de plásticos. Caracterización de grafeno y otros alótropos del carbono.

¿Es necesario para su uso un técnico? No.
¿Dispone de técnico? No.

Servicio de Técnicas Microscópicas

AFM Multimode Nanoscope IIIA (Bruker)

Se considerará usuario autónomo a aquel que haya completado con éxito el curso de entrenamiento ofertado por el SPI AFM/STM. Este curso de entrenamiento tiene un coste de 100 €.

* Las tarifas excluyen el precio de las puntas de AFM. El usuario podrá aportar sus propias puntas, siempre que sean compatibles con el microscopio y la técnica o modo de trabajo requerido. Alternativamente, las puntas necesarias para la realización de los experimentos podrán ser adquiridas en el propio SPI (sujeta a disponibilidad). En este caso, las puntas quedarían en posesión del usuario, previo pago de su coste. Como orientación, se indican a continuación algunos precios de puntas ofertados por el fabricante del microscopio (Bruker) para distintos modos de trabajo:

Para otros tipos de puntas de prestaciones mejoradas o para otros modos de trabajo avanzados, se deben consultar los precios de adquisición de las sondas previamente al técnico o al responsable científico del servicio periférico.

Estación de Haces Focalizados FIB –FEI QUANTA 3D

Descripción de la infraestructura: Microscopio SEM con cañón de haces de iones focalizados.
Responsable: Sergio Ignacio Molina Rubio.
Ubicación: Módulo 9A del IMEYMAT.
Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos:

• Preparación de muestras electrón-transparentes para microscopía electrónica de materiales y dispositivos.
• Nano-mecanizado mediante FIB de materiales y dispositivos.
• Preparación de muestras en forma de nano-agujas para análisis mediante tomografía electrónica y de sonda atómica (atom probe tomography), así como para otras aplicaciones que requieran esta geometría de muestra.
• Manipulación de muestras de distintos materiales a escalo micro y nanométrica, incluyendo cortes en el material por ataque iónico, deposición de carbono o platino, transferencia de porciones de material a rejillas, etc.
• Análisis de materiales mediante electrones secundarios y con el haz de iones.
• Análisis 3D por haces de iones de distribución de precipitados u otras inclusiones en materiales y dispositivos mediante reconstrucción tomográfica.
• Otras operaciones específicas que requieran el uso de haces de iones focalizados, definidas específicamente por el peticionario del servicio.

¿Es necesario para su uso un técnico? Sí.
¿Dispone de Técnico? Sí.

Microscopio Electroquímico de Barrido –SENSOLITICS

Descripción de la infraestructura: Equipo electroquímico multifuncional para aplicaciones en el campo de la nanotecnología. Se adquirió en la convocataoria FEDER 2008-2011. Código: UNCA-08-1E-048.
Responsable: José Mª Palacios Santander.
Ubicación: Laboratorio de Instrumentación 2. Departamento de Química Analítica. Facultad de Ciencias.
Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos: La microscopía electroquímica de barrido (Scanning Electrochemical Microscopy, SECM) es una muy novedosa y avanzada técnica electroquímica con amplias aplicaciones en la determinación de cinéticas de transferencia de carga, visualización in-situ de la topografía de superficies que están inmersas en electrolitos, variaciones en la reactividad química localizadas espacialmente, así como fabricación de microestructuras en interfases o superficies. Lo que distingue a la SECM de otras técnicas microscópicas es que se utilizan ultramicroelectrodos amperométricos o potenciométricos como sondas de escaneo, que interactúan electroquímicamente sobre la muestra o que actúan como soportes de inmovilización de las especies a estudiar.
La SECM posee una excepcional selectividad química y, por ello, es una excelente herramienta para examinar propiedades y reacciones (electro)químicas que ocurren frecuentemente en interfases entre dos regiones; la técnica permite investigar los caminos y velocidades de tales reacciones con resolución espacial, lo que abre mucho el campo de sus aplicaciones que son ya muy numerosas y aumentan continuamente. Algunos ejemplos de las posibilidades de aplicación son: estudios de cinéticas de reacción; visualización de la actividad de enzimas inmovilizados sobre microestructuras y fabricación de biosensores; reacciones redox en baterías; estudio de fenómenos de corrosión (metal/aire o metal/agua marina); flujo de iones a través de los poros de membranas semipermeables; fotosíntesis en la membrana celular o monitoreo de la actividad biológica en células vivas; fabricación y caracterización de nanoelectrodos; estudio de la disolución pH-dependiente de mediadores electrónicos inmovilizados; control de calidad de conjuntos de ultramicroelectrodos; detección espacialmente resuelta de la secreción de neurotransmisores por célul as individuales; deposición lateral con alta resolución de polipirrol como medio para la construcción de transistores orgánicos.
El equipo está constituido por los siguientes elementos:
1) Microscopio básico electroquímico computerizado de exploración automática con dispositivos para aumentar la calidad de imagen mediante un sistema de posicionamiento piezoeléctrico, y para separar con precisión la información topográfica de la electroquímica.
2) Potenciostato auxiliar con stand, interfase para PC y software de control.

Servicios Ofertados:

1) Preparación de la muestra.
2) Caracterización de muestras mediante la obtención del mapa electroquímico de superficies de muestras conductoras y aislantes.

¿Es necesario para su uso un técnico? Sí.
¿Dispone de Técnico? No.
Observaciones: Actualmente, el aparato no dispone de ningún técnico especializado en su manejo.
El manejo del aparato no es complejo, pero requiere de un periodo de formación adecuado y del manejo de una serie de accesorios delicados y costosos (fungibles). No hay muchos aparatos de este tipo a nivel nacional y, por tanto, el nivel de aplicabilidad y de utilización del mismo son también limitados, sobre todo dentro de nuestra propia universidad. El equipo actualmente no está explotado en su totalidad ya que aún no se han llegado a probar o a utilizar todas las posibilidades técnicas del equipo

Perfilómetro Óptico Multimodo, ZETA, ZETA300

Descripción de la infraestructura: Microscopio óptico 3D multimodo. Modos de medida: Confocal, Interferométrica, Multisuperficie, Texturas (QDIC/Nomarski), Reflectometría. Resolución hasta 1 nm (dependiendo de la técnica de medida). Incluye reflectómetro para medidas de espesores de capas delgadas.
Responsable: Juan Mª González Leal.
Ubicación: Módulo M1 IMEYMAT.
Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos: Medida de espesores de capas (Incluido multicapas). Medidas de volumen y área de incrustaciones, poros o cualquier característica superficial. Medida de rugosidades. Medida de texturas. Análisis de frecuencias espaciales. Imágenes 3D en color real de las superficies y ficheros CAD.

¿Es necesario para su uso un técnico? No.
¿Dispone de técnico? No.
Observaciones: El servicio está orientado a todos aquellos profesionales que necesiten resultados de metrología de superficies, principalment e relacionadas con la conformación y/o el mecanizado de materiales (moldeado, corte), tratamientos superficiales (ataques químicos, abrasión, pulido), aplicación de capas o recubrimientos (pinturas, deposición de capas), control de calidad de útiles de mecanizado, así como la obtención de datos experimentales CAD de dispositivos (LEDs, encapsulados), con precisiones del orden de hasta 1 nm (dependiendo del modo de medida) y muestras de tamaño hasta 30 cm.